霍尔器件副效应是指在普通霍尔器件的工作过程中，由于晶体管特性和外界电磁环境的影响，产生的一些特殊的不希望出现的电特性现象。主要受到外界环境温度、湿度、电压、电磁干扰和元件本身构造等因素的影响，常见的有漏电流、输入电阻变化、输出电阻变化、滞后电流、电容变化以及晶体管参数变化等。

首先，霍尔器件副效应中的漏电流是指在正常工作电压下，霍尔器件的输出端会不可避免地出现一定的漏电流，而这个漏电流的大小与温度、湿度和外界的磁场有关。这种漏电流会影响霍尔器件的工作精度和稳定性，因此必须对霍尔器件进行正确的配置和维护，以控制漏电流的大小。

其次，输入电阻变化是指霍尔器件的输入端，其输入电阻会随着温度变化而发生变化，这样就会影响霍尔器件的输入电压，从而影响晶体管的工作稳定性。因此，在设计霍尔器件时，必须把输入电阻的变化考虑在内，以保证霍尔器件的精度和可靠性。

此外，输出电阻变化是指霍尔器件的输出端，其输出电阻也会随着温度变化而发生变化，这会影响霍尔器件的输出电压，从而影响晶体管的工作稳定性。为了减小输出电阻变化带来的影响，在设计霍尔器件时，应该选择一种具有良好热稳定性的输出电阻类型。

此外，滞后电流是指在正常工作电压下，霍尔器件的输出端会有一定的滞后电流，而这个滞后电流会随着温度变化而发生变化，这会影响霍尔器件的工作精度和稳定性。因此，为了保证霍尔器件的精度和可靠性，应该在设计时考虑到滞后电流的影响，并选择一种具有良好热稳定性的滞后电流类型。

最后，电容变化是指霍尔器件的输入端，其电容会随着温度变化而发生变化，这会影响霍尔器件的输入电压和输出电压，从而影响晶体管的工作稳定性。因此，在设计霍尔器件时，应该选择一种具有良好热稳定性的电容类型，以减小电容变化带来的影响。

总之，霍尔器件副效应是一种普遍存在的现象，其主要包括漏电流、输入电阻变化、输出电阻变化、滞后电流、电容变化以及晶体管参数变化等。正确的配置和维护，以及正确的选择和设计，可以有效地减小霍尔器件副效应带来的影响，从而保证霍尔器件的精度和可靠性。

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